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fischer熒光鍍層分析儀x-ray

簡要描述:fischer熒光鍍層分析儀x-ray X-RAY XUL-XYm全稱FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm,德國*,比同系列產品FISCHERSCOPE® X-RAY XUL多了手動可調節平臺。主要用于測量鍍層厚度,分析鍍層和溶液(電解液)的成分(成份)

  • 產品型號:X-RAY XUL-XYm
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2024-07-08
  • 訪  問  量:3839
產品詳情

fischer熒光鍍層分析儀x-ray簡介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。

比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

XULX射線光譜儀有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。

本款儀器特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

              在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

              在連接器和電氣元件上的測量

              電鍍液的溶液成分分析

 

fischer熒光鍍層分析儀x-ray設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XUL設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應不同的樣品平臺:

XUL: 固定平面平臺

XUL XYm: 手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。

盡管儀器本身結構緊湊,但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

通過強大而界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結果的數據分析和所有相關信息的顯示等。

XUL型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器,型式許可符合德國Deutsche Röntgenverordnung-RöV法令要求。

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm 兩款設備的區別:

樣品臺

XUL

XUL XYm

設計

固定樣品平臺

手動XY平臺

X/Y方向zui大可移動范圍

-

50 x 50 mm

樣品放置可用區域

250 x 280mm

樣品zui大重量

2kg

樣品zui高高度

240mm

更多詳細信息,請參考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL參數或。

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